一、亮点：

D8 ADVANCE：XRD、PDF和SAXS分析的解决方案

1）0D-1D-2D------所有维度都非常优质的数据质量

不论在何种应用场合，它都是您的最佳探测器：最高的计数率、动态范围和能量分辨率

2）DAVINCI------面向未来的多用途

采用了开放式设计并具有不受约束的模块化特性的同时，将用户友好性、操作便利性以及安全操作性发挥得淋漓尽致，这就是布鲁克DAVINCI设计

3）≤0.01°2Ɵ------峰位精度

布鲁克独家提供基于NIST标样刚玉（SRM 1976c）整个角度范围内的准直保证

4）D8 ADVANCE—面向未来的X射线衍射解决方案

基于独一无二的D8衍射仪系列平台的D8 ADVANCE，是所有X射线粉末衍射和散射应用的理想之选，如：

• 典型的X射线粉末衍射（XRD）
• 对分布函数（PDF）分析
• 小角X射线散射（SAXS）和广角X射线散射（WAXS）

由于具有出色的适应能力，仅使用D8 ADVANCE，您就可对所有类型的样品进行测量：从液体到粉末、从薄膜到固体块状物。

• 无论是新手用户还是专家用户，都可简单快捷、不出错地对配置进行更改。这都是通过布鲁克独特的DAVINCI设计实现的：配置仪器时，免工具、免准直，同时还受到自动化的实时组件识别与验证的支持。

• 不仅如此——布鲁克独家提供基于NIST标样刚玉（SRM1976）的准直保证。目前，在峰位、强度和分辨率方面，市面上尚无其他粉末衍射仪的精度超过D8 ADVANCE。

二、D8 ADVANCE 规格

三、应用

• 物相定性分析
• 结晶度及非晶相含量分析
• 结构精修及解析
• 物相定量分析
• 点阵参数精确测量
• 无标样定量分析
• 微观应变分析
• 晶粒尺寸分析
• 原位分析
• 残余应力
• 低角度介孔材料测量
• 织构及PDF分析
• 薄膜掠入射
• 薄膜反射率测量
• 小角散射

四、特点

1）TWIN / TWIN 光路

布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。

2）动态光束优化（DBO）

布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Ɵ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

3）LYNXEYE XE-T

LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上唯一一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器，适用于所有波长（从Cr到Ag），具有最高的计数率和最佳的角分辨率，是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。

LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率，着实出色，是市面上性能最佳的荧光过滤器探测器系统。借助它，您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100％过滤，而且无需金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余Kß和吸收边。同样，也无需用到会消除强度的二级单色器。

布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证：交货时保证无坏道！

 五、相关应用图片

1）材料可靠性鉴别(PMI)最为常见，这是因为其对原子结构十分灵敏，而这无法通过元素分析技术实现。

2）方法包括EVA软件半定量分析、DQUANT软件面积法分析和DIFFRAC TOPAS软件全谱拟合分析法。

3）可以在DIFFRAC.WIZARD中配置温度曲线并将其与测量同步，然后可以在DIFFRAC.EVA中显示结果。

4）在DIFFRAC.TEXTURE软件中，使用球谐函数和组分分析方法，生成极图、取向分布函数(ODF)和体积定量分析。

5）在DIFFRAC.LEPTOS中分析钢部件的残余应力：通过sin2psi方法，使用Cr辐射测量得到。

6）在DIFFRAC.LEPTOS中，对多层样品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度进行XRR分析。

7）在DIFFRAC.SAXS中，对EIGER2 R 500K通过2D模式收集的NIST标样SRM 8011 9 mm金纳米颗粒进行粒度分析。